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粒度及zeta電位分析儀

簡要描述:粒度及zeta電位分析儀工作原理:
粒度檢測: 動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)
Zeta電位檢測:帶相位分析的多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)

  • 更新時間:2024-01-17
  • 瀏覽次數:1157
詳細介紹
品牌PSS分散方式濕法分散
價格區間面議儀器種類動態光散射
產地類別進口應用領域醫療衛生,環保,化工,生物產業,制藥
粒度范圍0.3nm--10.0μmZeta電位范圍-500mV?--?+500mV

粒度及zeta電位分析儀簡介:

Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS基礎上升級配套而來,采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有*技術的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。

粒度及zeta電位分析儀技術優勢

1、高靈敏度PMT檢測器;

2、可搭配不同功率光源;

3、準確度高,接近樣品真實值;

4、可測試水相及有機相樣品的粒度及Zeta電位;

5、快速檢測,可以追溯歷史數據;

6、結果數據以多種形式和格式呈現;

7、符合USP,CP等個多藥典要求;

8、無需校準;

9、復合型算法:

(1)高斯(Gaussion)正態粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

(2)頻率(Frequency)Zeta電位分析法與*的相位(Phase)分析法自由切換

10、模塊化設計便于維護和升級;

(1)可自動稀釋模塊(選配);

(2)自動進樣系統(選配);

(3)搭配多角度檢測器(選配);



Nicomp多峰分布概念

基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點,Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產生活中不相符,因為現實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。


Nicomp多峰分布優勢

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統的DLS系統的結果,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的準確情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優異的算法和高靈敏性的硬件設計,Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。


ZETA電位分析儀優勢:

模塊化設計

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 的功能體系越來越強大,可以用于各種復雜體系的檢測分析。


選配 21CFR Part 11法規軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯邦法規21章第11款(21 CFR PART11)要求的軟件。具有數據自動備份,審計追蹤,權限分級,電子簽名,可連接Lims系統等多項功能。

中國食品藥品監督管理局(NMPA)有政策趨勢將對醫藥研發企業實施規范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規的軟件更能符合現在GLP/GMP的要求。


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